l   최대 1024개의 핀과 풀 핀 조합 기능 제공

l   ESD(HBM 및 MM) 및 래치업 테스트 허용

l    JEDEC, MIL, ESD 협회 및 EIAJ 표준 및 향후 표준 충족

l   급격한 테스트 시간 단축

l   진정한 정전류 펄스와 빠른 펄스 전원 공급 장치

l   풀업/다운 및 패턴 생성기를 통해 DUT를 안정화합니다

l   자동 또는 수동 조작을 통해 세부 테스트 결과를 빠르게 수집합니다

l   온도 계수 테스트를 허용합니다

l   전원 공급 장치의 최소 경로 저항

l   테스트 간 손상 감지

l   zap 사이의 방전

l   여러 DUT, 여러 공급 DUT 및 LCD 드라이버 테스트

l   기능 테스트 사용 가능

l    DUT 보드의 낮은 삽입력 커넥터

l   완벽한 진단과 간편한 유지보수

l   이더넷으로 연결 가능

l   데이터베이스 프로그램에 의한 데이터 조작 허용

일반

• 반도체 시장에서는 더 높은 통합과 속도의 발전이 지속되며, 특히 메모리, 마이크로프로세서, ASIC, LCD 드라이버 분야에서 급속한 변화가 이루어지고 있습니다. 이에 따라 ESD(정전기 방전) 및 래치업 신뢰성 평가의 중요성이 더욱 강조되고 있습니다.

• 모델 7000X 시리즈는 단일 시스템으로 ESD 및 래치업 테스트를 수행할 수 있는 최첨단 신뢰성 평가 시스템입니다. 최대 1024핀 소자를 대상으로 완전 자동화된 테스트가 가능합니다.

  • E형: ESD 테스트 전용

  • L형: 래치업 테스트 전용

  • EL형: ESD 및 래치업 테스트 모두 지원

  ESD 테스트 특징

  • ESD 펄스 생성기(EPG)**가 2축 로봇에 부착되어 DUT(테스트 대상) 재핑 수행

  • HBM, MM 등 다양한 파형 사양 설치 가능

  • 4개의 C/R 포함, 최대 4개의 로봇(로봇당 256핀) 사용 가능

  • 기존 모델보다 10배 이상 빠른 테스트 속도 제공

  • 릴레이 매트릭스 설치로 모든 핀 조합에 대한 ESD 테스트 가능

  • DC 섹션을 통한 VI 곡선 변화 및 성능 저하 감지

  래치업 테스트 특징

  • DC 섹션 기반 트리거 방식 (전류 펄스, 전압 펄스 등)

  • ESD 펄스 기반 래치업 테스트 가능

  • 고속 연속 근사 절차 지원 (테스트 시간 단축)

  • Icc 비교 방식으로 래치업 감지 및 안정화

  • 풀업/풀다운 설정 및 디지털 패턴 공급 기능

  • 고온 오븐을 활용한 온도 계수 측정 가능

  • 디지털 오실로스코프 및 방출 현미경을 통한 래치업 분석 가능

  모델 7000X 시리즈는 반도체 소자의 ESD 및 래치업 테스트를 자동화하여, 더 빠르고 정확한 신뢰성 평가를 가능하게 하는 고급 시스템입니다.

미니어처 선형 가이드를 통한 위치 제어

최대 4개의 EPG(ESD 펄스 생성기) 유닛을 유연하게 제어할 수 있습니다.

재핑(Zapping) 시간은 이전 모델 대비 1/10 이하로 단축되었습니다.

• 고속 재핑
• 더블 버퍼 메커니즘
• 유닛당 4개의 생성기
• 시스템당 4개의 유닛 지원

512핀 DUT 보드의 쉬운 배출

• 미스피드 보호
• 2초 후 배출
• 60kg의 방출력
• 병렬 피드/이젝트

다중 장치 DUT 보드

채택된 스페이스 등급 커넥터

• 높은 신뢰성, 낮은 접촉 저항 및 낮은 삽입력
• 오븐에서 사용할 수 있습니다.
• ESD 및 래치업 테스트 모두에 사용할 수 있습니다
• 일반적인 핀 연결은 자동으로 또는 수동으로 이루어집니다
• 고속 ESD 모드 사용 가능
• HBM/MM 혼합 재핑을 여러 DUT에 적용

핀 일렉트로닉스 핀당 작은 PC 보드 하나

• Vcc 및 GND를 위한 신뢰할 수 있는 3A 릴레이
• 풀업/다운을 위한 매우 작은 릴레이
• 저임피던스 경로
•  간편한 유지 관리